冬期休暇について

2016年12月28日~2017年1月4日まで冬期休暇とさせていただきます。

2017年も何卒よろしくお願いもうしあげます。

2016年12月26日

JPCA Show 2016 出展

東京ビッグサイトで、2016.6.1~6.3まで行われるJPCAShow 2016に出展します。
展示装置は、1台で様々な検査対象物を検査可能な装置、XET-PATTERN-TESTER MTを展示予定です。招待状ご必要な方ご連絡お待ちしております。

 

 

2016年4月18日

高尾工場開設

2015年5月より、高尾工場を開設いたしました。(大英エレクトロニクス株式会社1F)
HSタイプガラスマスク検査装置のデモ機はこちらに常設しております。

データ比較の精度向上

現在CADデータ比較の精度向上のアルゴリズムを開発しています。
いままでデータ比較では検出が難しい小さい欠陥も検出することが可能になります。
新装置から随時搭載予定です。

2014年4月20日

現在の開発状況

現在、XETパターン検査装置の高速タイプ検査装置の開発を行っています。
現在の約4倍以上の検査時間の短縮を目指しています。

2014年夏ごろを目標に開発を行っております。
進展等ありましたら随時情報を更新いたします。

2014年4月20日